AG防眩層膜厚儀: 按照客戶(hù)需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具。 AG防眩層膜厚儀 是一個(gè)模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設備，可用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的防眩膜層。 AG防眩層膜厚儀 是為客戶(hù)量身定制的，并廣泛應用于各種不同的應用。 比如： 吸收率/透射率/反射率測量，薄膜特性在溫度和環(huán)境控制下甚至在液體環(huán)境下的表征等等…
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